HY(IC)IC卡动态弯曲双向扭测试仪

HY（IC）IC卡动态弯曲双向扭试验机

衡翼仪器IC卡动态弯曲双向扭测试仪*服务国网电网客户，为企业客户及国内外研究单位提供定制化研发服务，衡翼值得信赖。

升级版IC卡动态弯曲双向扭测试仪由衡翼仪器研制，该测试仪工位为15工位，其中5工位为长边弯曲，5工位为短边弯曲，5工位为扭曲试验。将计数次数增加到9999次，计数方法采用非接处光电计数(传统采用开关量计数)，将故障率几乎降为0,弯曲量和扭转角度任意可调。

本仪器针对性IC卡在国标GB/T 16649.1，国标GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998标准等试验标准中的弯曲、扭矩的试验; 符合以上标准。
IC卡动态弯曲双向扭试验机技术参数：

外形尺寸：L670 X W380 X H220

儀器重量：70kg

電 壓：AC220V±5%

功 率：35W

測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

測試周期：1~9999次

扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm

正反向各15°，总扭曲角度30°

长边位移量为20mm(+0.00mm,-1 mm)

长边小位移量为2mm±0.50mm，

短边大位移量为10mm(+0.00mm,-1 mm)

长边小位移量为1mm±0.50mm，

夹具安装尺寸按照*标准执行。

IC卡动态弯曲双向扭测试仪产品用途：

  用于检测磁条卡，IC芯片卡，集成电路卡，等卡的弯曲和扭曲性能测试。

更新时间：2024/4/29 8:59:13